當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 薄膜制備全套設(shè)備 > 磁控濺射鍍膜設(shè)備 > 膜厚監(jiān)測儀--EQ-TM106
簡要描述:EQ-TM106膜厚監(jiān)測儀是采用石英晶體振蕩原理,結(jié)合先進的頻率測量技術(shù),進行膜厚的在線監(jiān)測。主要應(yīng)用于MBE、OLED熱蒸發(fā)、磁控濺射等設(shè)備的薄膜制備過程中,對膜層厚度及鍍膜速率進行實時監(jiān)測。根據(jù)實時速率可以輸出PWM模擬量,作為膜厚傳感器使用,與調(diào)節(jié)儀和蒸發(fā)電源配合實現(xiàn)蒸發(fā)源的閉環(huán)速率控制。
相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
技術(shù)參數(shù)
主要特點 |
| |||||||||
EQ-TM106-1監(jiān)測組件
|
| |||||||||
EQ-TM106-2顯示儀
|
| |||||||||
EQ-TM106-3探頭
|
| |||||||||
標準配件 |
| |||||||||
質(zhì)保期 | 一年質(zhì)保期,終身維護 |
產(chǎn)品咨詢
聯(lián)系我們
中美合資合肥科晶材料技術(shù)有限公司 公司地址:安徽省合肥市蜀山區(qū)科學院路10號 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)掃一掃 更多精彩
微信二維碼
網(wǎng)站二維碼